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高低温试验箱

所属分类:[PCT|HAST高度加速老化试验箱]

  • 产品标题:HAST加速老化试验箱
  • 产品概况:HAST加速老化试验箱广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。随着半导体可靠性的提高,目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间,采用了最新的压力蒸煮锅试验方法。
  • 订购热线:400-088-3892

    专利证书号:ZL 2015 2 0367894.8

    HAST加速老化试验箱是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间的试验设备,一般用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

    为了提高试验效率、减少试验时间,采用了最新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型:即PCTUSPCT(HAST) 现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。 注意事项:USPCT现在称为HAST(高度加速应力试验)

     

    型号 內箱尺寸(mm) 外部尺寸 温度范围 压力范围 湿度范围 加压时间
    R-HAST-450D Φ500*D600 860*1350*1450

    105142.9

    +0.2~3.0kg/cm2

    65%~100%RH

    大约45分钟

     

    HAST加速老化试验箱

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